13 research outputs found

    Development of 3-D Particsl Tracking Velocimetry using Genetic Algorithm

    Get PDF
    충분한 정확도와 신뢰도를 가진 다양한 난류계측에서 열선유속계와 LDV가 계측에 널리적용되어 왔다. 그러나 이러한 계측법은 기본적으로 측정대상공간에 대하여 한 점에 대한 정보밖에 얻을수 없다. 이러한 이유로 동시 다점계측이라는 장점을 가진 PIV계측기법에 의해 얻어내는 연구성과들이 계속 증가 추세에 있으며, 특히 난류에 대한 많은 정보를 얻기 위해서는 3방향의 속도성분을 동시에 계측하는 것이 요구되어지고, 이러한 3차원 계측이 활발히 진행되어지고 있다. 그러나, 기존의 계측방법으로 속도가 빠르거나, 3차원성이 강한 복잡한 유동장에 대한 계측은 어려운 단계에 있다. 본 연구에서는 이러한 단점을 극복하기 위하여 기존의 탐색방법인 시간-공간, 공간-시간방식이 아닌 시ㆍ공간을 동시에 탐색하여, 계측과정을 축소하여 계측시에 존재하는 오차의 영향을 최소화하는 알고리즘을 구축하고자 한다. 이러한 알고리즘의 구축을 위해 자연세계의 진화 현상인 적자생존에 기초한 최적화 알고리즘인 유전알고리즘을 적용하였다. 유전알고리즘을 적용하기위해 3차원 벡터를 기준으로 하는 개체를 정의?臼눗?, 3차원 위치와 유체의 연속의식으로부터 적합도를 선정하여 유전연산자를 적용하는 알고리즘을 개발하였다. 개발된 알고리즘은 채널유동 및 충돌제트유동에 대한 가상영상기법에 의해 알고리즘의 성능평가를 수행하였으며, 기존의 방법보다 우수한 결과를 보임을 알 수 있었다. 나아가 후향단유동장에 계측을 통하여 순간 3차원 속도벡터의 개수가 약 1,100개 이상으로 획득하는데 성공하였으며, 정성적으로 타당한 결과를 얻을 수 있었다. 본 연구에서 개발된 유전알고리즘에 의한 PTV기법이 가상영상 및 채널유동대한 우수한 결과를 얻음으로서 난류유동의 계측법의 유효성을 입증하였다.List of Tables = Ⅰ List of Figures = Ⅱ Abstract = Ⅳ Nomenclature = Ⅴ 제 1 장 서론 = 1 제 2 장 3차원 계측의 원리 2.1 표정요소의 정의 및 계산 = 5 2.2 3차원 위치 결정의 원리 = 6 제 3 장 유전 알고리즘(GA)의 적용 3.1 일반적인 유전 알고리즘 = 12 3.2 PTV에서의 유전 알고리즘 = 12 제 4 장 가상영상에 의한 성능평가 4.1 가상영상의 구현 = 20 4.2 채널 및 제트유동의 가상영상 = 30 4.3 계측오차의 불확실성 = 39 제 5 장 후향단 유동계측 5.1 계측 시스템의 구성 = 41 5.2 실험조건 및 계측결과 = 44 제 6 장 결론 = 61 참고문헌 = 6

    유전 알고리즘을 이용한 3차원 PTV기법의 개발에 관한 연구

    No full text

    Development of Direct Current Sensor using Magnetostriction

    No full text

    MULTI-BAND RECEIVING ACTIVE ANTENNA USING ACTIVE ANTENNA IMPEDANCE MATCHING CIRCUIT

    No full text
    본 발명은 수동안테나 및 수동안테나에서 수신된 신호를 증폭시키고 주파수 대역에 따라 변화하는 수동안테나의 임피던스를 정합시켜 수동안테나를 통해 적어도 하나 이상의 주파수 대역의 신호를 수신하도록 하는 능동정합회로부를 포함하는 것을 특징으로 한다

    Study on the Desulfurization Mechanism in the Coal-based DRI-making Process

    No full text
    MasterThe desulfurization experiments are conducted to see how to remove H2S in the DRI-making condition. Cylindrical pellets were made with hematite and limestone for desulfurization agent. Powder sorbent is also charged to compare desulfurization cability with pellet type. To investigate the temperature effect on desulfurization during DRI-making process, QMS data comparison of off-gas from desulfurization experiment is analyzed with iron oxide and limestone pellets. Experimental conditions are under the temperatures of 750 oC and 450 oC respectively. At 750 oC of temperature, it is general DRI-making condition which is Fe stable condition. At 450 oC of temperature is pre-reduction condition which is Fe3O4 stable condition. From these results, it can be concluded that limestone works mainly as desulfurization agent at 750 oC with CaCO3(s) + H2S(g) -> CaS(s) + H2O(g) + CO2(g). Iron oxide is the only sorbent for H2S capture at 450 oC with FeO(s) + H2S(g) -> FeS(s) + H2O(g). As sulfidation reaction with limestone goes on, desulfurization reaction rate increases due to pseudo-calcination effect of CO2 which is product gas of sulfidation reaction. SEM/EDS observation can elucidate calcination of limestone and sintering of CaS product during desulfurization process

    인공 신경망을 이용한 3차원 낸드 셀 구조의 프로그램 효율 개선 연구

    No full text
    Master본 논문에서는 3차원 낸드 플래시 셀 구조로 문턱 전압을 예측하는 인공신경망을 학습시키고, 신경망과 수치적 방법을 이용하여 단일 낸드 플레시 셀 구조가 개선된 프로그램 효율을 갖도록 최적화하였다. 낸드 플래시 메모리는 효율적인 프로그램을 위해 증분 단계 펄스 프로그래밍(ISPP) 방법을 사용할 수 있다. 일반적으로 높고 일정한 ISPP 기울기를 가질 때 프로그램에 적합하지만, 특정한 전기적 특성을 갖도록 소자를 설계하는 것은 어렵다. 이를 해결하기 위해 인공 신경망 기술을 이용하여 목표한 전기적 특성에 맞게 소자를 설계하는 연구를 진행했다. 먼저 학습에 사용할 데이터를 확보하기 위해 TCAD를 이용하여 3차원 낸드 플래시 셀 구조를 구현했다. 그리고 구현한 낸드 플래시 셀이 측정 데이터와 유사한 문턱전압 및 ISPP 기울기를 갖도록 교정했다. 교정한 셀 구조를 기준으로 각 파라미터의 범위를 설정한 뒤, 무작위로 셀을 생성하고 시뮬레이션을 통해 셀의 전기적 특성을 얻었다. MATLAB을 이용하여 낸드 셀 구조와 문턱전압의 관계를 학습하는 순방향 모델을 설계했다. 이때 여러 셀 구조 매개변수와 문턱전압이 갖는 복잡한 관계를 학습시키기 위해 다층 퍼셉트론 (MLP)을 사용했다. 그 결과 각 구조의 신경망 예측 값이 실제 값과 거의 유사하게 (<10% 오류) 예측했으며 한번 학습하는데 30초 정도밖에 소요되지 않았다. 다음으로 학습시킨 신경망과 수치적 방법을 이용하여 낸드 셀 구조가 목표한 전기적 특성을 갖도록 최적화하는 역방향 모델을 설계했다. 최적화에 사용한 손실함수는 ISPP 기울기가 높고 일정한 값을 갖도록 설계했고, 최적화 방향성을 조절하기 위해 손실함수에 3개의 계수를 적용하였다. 또한 가장 성능이 좋은 최적화된 구조에 공정 변동을 적용하여 측정 데이터와 비교하였다. 그 결과, 계수 값이 변함에 따라 의도한 대로 최적화 결과가 변화하는 것을 확인하였고, 한번 최적화 과정에 약 40초 정도 밖에 소요되지 않았다. 계수를 변화시키며 얻은 최적화 결과 중 가장 성능이 좋은 셀 구조는 측정 데이터로 교정한 셀 구조에 비해 문턱 전압과 ISPP 기울기의 포화 구간에서 각각 24.6%, 11.6% 개선된 전기적 특성을 가졌다. 또한, 공정 변동 범위 내에서 임의로 시뮬레이션 한 전기적 특성들은 평균적으로 측정 데이터에 비해 문턱 전압과 ISPP 기울기의 포화 구간에서 각각 23.8%, 9.5% 개선된 전기적 특성을 가졌다. 이 학위 논문에서는 인공 신경망을 낸드 플래시 메모리에 적용하여 전기적 특성을 예측하는 것뿐만 아니라 목표한 전기적 특성을 갖도록 소자를 설계했다. 그 결과 제한된 매개변수 범위 내에서 짧은 시간 안에 개선된 특성을 갖는 셀 구조를 제시했다. 이러한 연구 결과는 낸드 플래시 기술 개발에 인공 신경망이 적용된 하나의 방법을 제안하고 공정 기술자들이 소자를 개발하는데 도움이 될 것이다.We trained a neural network (NN) to predict the threshold voltage with a three-dimensional (3D) NAND Flash cell structure and the NAND Flash cell structure is optimized to have improved program efficiency using the pre-trained NN and numerical method. NAND Flash memory uses an incremental step pulse programming (ISPP) method for efficient programming. In general, it is suitable for a program when it has a high and constant ISPP slope, but it is difficult to design a device to have a target electrical characteristic. To solve this problem, we conducted research on designing devices according to the targeted electrical characteristics using artificial intelligence (AI) technology. First, 3D NAND flash cell structure was implemented using TCAD to obtain massive data to be used for learning. And we designed the 3D NAND flash cell by using TCAD simulation tool and calibrated it with the measured data to have a threshold voltage and ISPP slope similar to the measured data. After setting the range of each parameter based on the calibrated cell structure, cell structures were randomly generated and electrical characteristics were obtained using TCAD simulation. A forward model was designed to learn the relationship between the NAND cell structure and the threshold voltage using MATLAB. A multilayer perceptron (MLP) was used to learn the complex relationship between various cell structure parameters and threshold voltage. As a result, the neural network prediction of each structure was predicted almost similar to the actual value (<10% error), and it took only about 30 seconds to learn once. Next, we designed a backward model that optimizes the NAND cell structure to have the aimed electrical characteristics using the pre-trained NN and numerical methods. The loss function used for optimization was designed to have a high, constant ISPP slope, and three coefficients were applied to the loss function to adjust the optimization direction. In addition, process variations were applied to the optimized structure with the best performance in the optimized performance and compared with the measured data. As a result, it was confirmed that the optimization result changed as intended as the coefficient changed, and the optimization process took only about 40 seconds once. Among the optimization results obtained by varying the coefficient, the cell structure with the best performance has improved electrical characteristics by 24.6% in the threshold voltage, and by 11.6% in the saturation section of ISPP slope compared to the cell structure calibrated with the hardware measurement data. In addition, the randomly simulated electrical properties of cell structure within the process variation range had improved electric characteristics by 23.8% in the threshold voltage and by 9.5% in the saturation section of ISPP slope compared to the measured data on average. In this study, an artificial intelligence technology is applied to a NAND flash memory to not only predict electrical characteristics but also design a device to have targeted electrical characteristics. As a result, we proposed a cell structure with improved properties in a short time within a limited parameter range. These research results suggest a method in which artificial neural networks are applied to the development of NAND flash technology and can help device engineers develop devices

    (KORDI 비전 달성을 위한) 인재육성전략 수립 연구

    No full text
    한국해양연구

    CMOS Matching Circuit for Multiband Broadcasting Receiving Active Antenna

    No full text
    학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과, 2011.8, [ viii, 53 p. ]한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과
    corecore